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ni携adas硬件在环测试系统亮相2018中国国际汽车测试展

2024-05-16 02:47 来源: 作者/编辑: 浏览次数:8540 手机访问 使用手机“扫一扫”以下二维码,即可分享本文到“朋友圈”中。

ni (美国国家仪器公司,national instruments,简称ni) 是一家以软件为中心的平台供应商,今日参加了国内最大的整车和部件测试和验证技术与服务展会——2018中国国际汽车测试展(auto testing exhibition)。本次展会,ni以“联汽车提供完整的研发验证到产线测试解决方案“为主题,重点展示了汽车安全测试的adas_all_in_one的方案。

目前,汽车产业正朝着自动驾驶方向发展,而高级驾驶辅助系统(adas)是实现自动驾驶发展的重要前提。ni 的硬件在环测试系统可以提升adas硬件在环测试系统的安全性。展会上,ni的adas 硬件在环测试(hil)系统展示了完整的针对智能驾驶系统的在环测试能力,实现多传感器融合的硬件在环,涵盖77ghz雷达,摄像头,lte-v,gnss模拟,驾驶模拟器,录播和回放等测试能力。系统使用场景仿真软件(scaner studio/carmaker/prescan)产生设定的场景给到智能汽车上不同的传感器,通过屏幕或者数字注入方式给到摄像头,通过ni的车载雷达模拟系统给到毫米波雷达,通过rf射频模块给到v2x模块/传感器,不同传感器收集到的道路反馈数据给到电子控制单元(ecu),ecu综合各类传感数据做融合后进行决策,决策通过搭载有车辆动力学模型的pxi平台执行。

图1:adas硬件在环测试系统

同时,整个系统还配备了gnss模拟器,用来模拟车辆驾驶在不同地域的情况,整个测试环节可进行记录以及回放,用于后续针对行为,对算法做进一步的详细分析。

此外,ni的生态联盟(adas iit)也参加了这次展会,包括使用innosimulation的驾驶模拟器,scaner studio, camera 测试方案, ni 合作伙伴 konrad基于ni vrts提供的雷达测试方案,ni 联盟合作伙伴也提供了基于ni的usrp针对v2x测试,以及ni的gnss模拟可以进行数据记录回放功能。

图2:adas多传感器融合硬件在环

ni亚太区汽车市场经理贾青超表示:我们的硬件在环测试系统是基于平台化方法,具有良好的开放性和灵活性。这一基于平台的测试方法,由灵活的硬件,开放的软件以及强大的生态圈构成,可以有效应对快速变革的智能汽车测试。

这次展会,除adas多传感器融合硬件在环,ni还展出了业界领先的企业级产线、实验室设备及数据管理方案,智能汽车、新能源汽车三电系统、机电系统数据测试解决方案等。

(转载)

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