引言：ni近日推出最新、最先进的pxi rf测试系统测量软件ni-rfmx 2.2，最新版本的ni-rfmx还可通过算法优化来缩短测量时间。

作为致力于为工程师和科学家提供解决方案帮助他们应对全球最严峻的工程挑战的供应商，ni(美国国家仪器公司，national instruments)3月31日宣布推出ni-rfmx 2.2，这是最新、最先进的pxi rf测试系统测量软件。即使5g标准尚未确定，工程师可以结合第二代pxi矢量信号收发仪(vst)使用，提供各种载波聚合方案来测试4.5g和5g射频收发模块和放大器等射频组件。

借助第二代vst，工程师能够以20 mhz的带宽同步测量和生成多达32个lte载波，并使用软件来定义各种载波间距方案。

最新版本的ni-rfmx还可通过算法优化来缩短测量时间。工程师在执行umts/hspa+和lte/lte-advanced pro等无线技术的调制和频谱测量时，可安装最新版本的软件，将evm测量时间缩短高达33%。ni-rfmx在测量速度的优化体现了ni始终致力于帮助用户以更低成本获得更快的测量速度。

“通过采用pxi和labview以及ni-rfmx测量软件，我们看到许多半导体行业的客户大大缩短了rf测量的测试时间，进而降低了测试成本，缩短了上市时间。”ni rf副总裁charles schroeder表示，“清晰的文档描述、丰富的示例代码和与第二代vst等pxi硬件的紧密集成，使我们的客户能够快速轻松地将ni-rfmx应用到测试系统中。”

除了算法改进之外，ni-rfmx还增加了对互调失真、三阶截距以及y因子和冷源噪声系数等测量的支持。 这些测量可轻松与pxie-5668r射频信号分析仪集成，工程师可轻松配置互调失真和噪声系数测试。现有ni-rfmx用户可以下载并使用最新版本。

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