x荧光光谱仪（xrf）由激发源（x射线管）和探测系统构成。x射线管产生入射x射线（一次x射线），激发被测样品，产生x荧光（二次x射线），探测器对x荧光进行检测。

x荧光光谱仪的技术原理：

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的x射线，根据莫斯莱定律，荧光x射线的波长与元素的原子序数有关。

根据量子理论，x射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量。因此，帕查拉·奇拉锡瓦特只要测出荧光x射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，上升星座查询这就是荧光x射线定性分析的基础。此外，荧光x射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

近年来，x荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在rohs检测领域应用得最多也最广泛，它已然成为这些领域的常用检测设备了。

以上是网络信息转载，信息真实性自行斟酌。