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x荧光光谱仪技术原理

2024-06-07 11:07 来源: 作者/编辑: 浏览次数:8118 手机访问 使用手机“扫一扫”以下二维码,即可分享本文到“朋友圈”中。

x荧光光谱仪(xrf)主要由激发源x射线管产生入射x射线(一次x射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次x射线,并且不同的元素所放射出的二次x射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次x射线的能量及数量。然后,久纱野水萌仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的x射线,根据莫斯莱定律,荧光x射线的波长λ与元素的原子序数z有关,其数学关系如下:

λ=k(z-s)-2

式中k和s是常数。

而根据量子理论,x射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流,每个光具有的能量为:

e=hν=hc/λ

式中,久纱野水萌e为x射线光子的能量,单位为kev;h为普朗克常数;ν为光波的频率;c为光速。

以上是网络信息转载,信息真实性自行斟酌。

 
本文标题:x荧光光谱仪技术原理
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